原子力显微镜
Atomic Force Microscope
| 生产厂商： | Veeco Instruments Inc. |
| 设备型号： | 004-1023-000 |
| 放置地点： | 理科2号楼2331 |
| 设备简介（中文）： | Dimension Icon 扫描探针显微镜 (SPM) 通过在样品表面上扫描尖锐的尖端来产生高分辨率的三维图像。 尖端是安装在靠近显微镜顶部的圆柱形压电管一端的柔性悬臂的一部分。 施加到压电管上的 X 和 Y 电极的电压使管水平偏转，以在样品表面上产生精确的光栅扫描。 施加到压电管 Z 电极上的电压控制尖端的垂直高度。 Dimension Icon 头部包括 X、Y 和 Z 位置传感器。 感测到的 XYZ 位置信息为探头尖端位置的闭环控制提供反馈，确保探头在预期位置完成每个移动命令。 步进电机耦合到导螺杆平移带有样品的载玻片。 单独的电机驱动控制显微镜和尖端相对于样品表面的高度。 |
| Introduction (English): | The Dimension Icon Scanning Probe Microscope (SPM), produces high resolution, three dimensional images by scanning a sharp tip over the sample surface. The tip is part of a flexible cantilever mounted on one end of a cylindrical piezoelectric tube mounted near the top of the microscope. Voltages applied to the X and Y electrodes on the piezoelectric tube deflect the tube horizontally to produce a precise raster scan over the sample surface. A voltage applied to the Z electrodes on the piezo tube controls the vertical height of the tip. The Dimension Icon head includes X,Y and Z position sensors. The sensed XYZ position information provides the feedback for closed loop control of probe tip location, ensuring that the probe completes each move command at the intended position. Stepper motors coupled to lead screws translate slides with the sample attached. A separate motor drive controls the height of the microscope and tip relative to the sample surface. |
| 培训要求： | 实验室统一组织培训，上机需通过实验室培训考核。 |
| 开放机时： | 800小时/年。 |
| 收费标准（暂定）： | 400元人民币/小时（校内师生），600元人民币/小时（校外人员）。 |
| 操作手册： | 待发布。 |
| 管理员及联系方式： | 杨康江 电话：18800128574 邮箱：2306795013@pku.edu.cn |